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當(dāng)前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 硬度計(jì) > 布洛硬度 > QUAM T-UD3組合硬度計(jì)采購(gòu)參考
簡(jiǎn)要描述：組合硬度計(jì)采購(gòu)參考可以用來(lái)測(cè)量任何批量產(chǎn)品的硬度。通過(guò)厚度為 1 毫米–動(dòng)態(tài)硬度計(jì)（小零件，薄壁結(jié)構(gòu)，管道，示儲(chǔ)罐，鋼板，復(fù)雜形狀的工件，金屬硬度控制，不可穿透涂料等）。
產(chǎn)品型號(hào)：QUAM T-UD3廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2024-07-10訪 問(wèn) 量：2236相關(guān)文章
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組合硬度計(jì)采購(gòu)參考 QUAM T-UD3 可以用來(lái)測(cè)量任何批量產(chǎn)品的硬度。通過(guò)厚度為 1 毫米–動(dòng)態(tài)硬度計(jì)（小零件，薄壁結(jié)構(gòu)，管道，示儲(chǔ)罐，鋼板，復(fù)雜形狀的工件，金屬硬度控制，不可穿透涂料等）。
該硬度計(jì)的工作原理與兩個(gè)超聲波接觸阻抗（UCI）和動(dòng)態(tài)（里氏）探針。用戶得到的兩種測(cè)量方法的優(yōu)點(diǎn) -可以從一個(gè)便攜式硬度儀得到最大值。
① 動(dòng)態(tài)（里氏）探針用于測(cè)量非鐵金屬的硬度，鑄鐵，粗粒晶材料，大量的產(chǎn)品等。
② 超聲波接觸阻抗（UCI）探針用于用于測(cè)量小件物品的硬度，具有薄的物體壁，復(fù)雜的形式，并測(cè)量表面硬化層的硬度。
| UCI 探頭類型 | 1 kgf（10N）2.2 lbf，5 kgf（50N）11 lbf，10 kgf（98N）22lbf |
| 里氏探頭類型 | D，DC，DL，C，D + 15，E，G |
| 測(cè)量范圍 HV | HV：230?940; HRC：20?70； HB：90?650。 |
| 拉伸強(qiáng)度 | MPa 370?1740 |
| 測(cè)量精度 HV | ±3％HV; HRC：±1.5％HRC; HB：±3％HB |
| 硬度計(jì)壓頭 | 金剛石壓頭（UCI），硬化球（Leeb） |
| 測(cè)量方向 | 任何方向 360° |
| 數(shù)據(jù)存儲(chǔ) | 僅受存儲(chǔ)卡限制 |
| 通信 | 將數(shù)據(jù)上傳到 PC 并作為電子表格導(dǎo)出（USB 電纜和包含軟 件） |
| 硬度標(biāo)度 | HRC，HB，HV，HRB，HS，HL，MPa |
| 用料 | -超聲波（UCI）探頭-已針對(duì)鋼進(jìn)行了預(yù)先校準(zhǔn)。 -動(dòng)態(tài)（Leeb）已針對(duì)鋼，合金鋼，鑄鐵進(jìn)行了預(yù)校準(zhǔn)，不銹鋼，鋁，青銅，黃銅，銅。 -用于校準(zhǔn)的其他自定義材料。 |
| 資料顯示 | 施加的載荷/接觸（UCI），角度（Leeb），單個(gè)測(cè)試結(jié)果，最大值，最小值，測(cè)試平均值， 測(cè)試次數(shù)，偏差，變量coeff，直方圖，信號(hào)和智能模式（錯(cuò)誤測(cè)量的過(guò)濾器）。 |
| 彩色液晶顯示 | （320x240） |
| 工作環(huán)境溫度 | 溫度-20°C?40°C 濕度 30％?80％R.H |
| 電源 | DC 4,5V（3 節(jié) AA 電池） |
| 儀器尺寸 | 160x75x30 mm |
| 電池壽命 | 約 10 個(gè)小時(shí) |
| 凈重 | 約 0.3kg（不帶探頭） |
上海玖橫儀器有限公司是一家專業(yè)從事儀器儀表研發(fā)、生產(chǎn)、銷售及服務(wù)的企業(yè)。超聲波探傷儀：（EPOCH 600超聲探傷儀、EPOCH 6LT超聲探傷儀、EPOCH 650超聲探傷儀、EPOCH 1000超聲探傷儀、USM 36超聲探傷儀、USN 60超聲探傷儀、USM go+超聲探傷儀、Ominscan SX相控陣探傷儀、OmniScan MX2相控陣TOFD探傷儀，新款OmniScan MX3全聚焦相控陣超聲波探傷儀）；超聲波測(cè)厚儀：（27MG超聲波測(cè)厚儀、45MG超聲波測(cè)厚儀、38DL PLUS超聲波測(cè)厚儀、DM5E超聲波測(cè)厚儀、CL5超聲波測(cè)厚儀、MAGNA-MIKE 8600霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀，ETG-100電磁高溫測(cè)厚儀）；超聲波探頭；定制相控陣探頭；渦流探傷儀：（NORTEC 600渦流探傷儀）；硬度計(jì)；DR平板探測(cè)器：1313DX ，1515DXT-I ，2520DX ，2530HE，4343HE， Dexela 1207 ，Dexela 1313 ，Dexela 2121S ，Dexela CMOS平板探測(cè)器 ，XRD 0822 ，XRD 1611 ，XRD 1621 ，XRD 4343RF ，XRD 3025 ，XRpad 4336 ，XRpad 4343 F ，XRpad2 3025 ，XRpad2 4336。內(nèi)窺鏡：（IPLEX NX奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX GX/GT奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX G Lite奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX TX奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX YS奧林巴斯內(nèi)窺鏡、XLGo+工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡GE、XL Detect+工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡GE新款、UVin專業(yè)紫外視頻內(nèi)窺鏡、）；脈沖發(fā)生器：（DRP300替代奧林巴斯的5072PR,5073PR）；合金分析儀：(Vanta奧林巴斯手持式合金分析儀、DELTA Professional手持式合金分析儀奧林巴斯、DELTA Element手持式合金分析儀奧林巴斯)等儀器儀表
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